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　　近日，杭州广立微电子股份有限公司认真推出了新一代通用型高性能半导体参数测试系统T4000。该系列产物是对公司现存并行perpin测试修复T4100S的要紧补充，粗略遮掩不同用户的使用需求。T4000的上市进一步拓展了公司的产物线幸运快艇炸金花，记号着广立微在晶圆级电性测试修复鸿沟获得了又一要紧残害。

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　　该系统帅有丰富的WAT、WLR测试算法库，适配千般主流WAT探针卡，赈济外洋上各主要型号的探针台，粗略高效完成总共老例WAT参数、老例WLR 参数以及addressable等先进测试芯片的测试，可平方期骗于WAT, WLR及SPICE等鸿沟。

　　比较阛阓上同类修复，T4000系列测试每片晶圆所需的时分大幅度裁汰，栽种幅度达20%至200%，具有很高的性价比，更符合对资本较为敏锐的8英寸及以下产线。因其功能全面、褂讪性高、兼容性好，不仅不错用于新的产线，还可用于替代原有晶圆厂老旧的测试修复。

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　　T4000系列主要上风

　　动作广立微自主研发的通用型半导体参数测试系统，T4000系列选择了新一代超低走电可膨胀矩阵开关，具有精度高、速率快、生动确立的特色，最高赈济100 个测量引脚，已矣多个module并行测试。由于其结构有计划先进，具备完善的自检和自校准功能，因此系统的褂讪性和一致性均得到显耀栽种。T4000系列凭据不同需乞降使用场景，提供了三个主要型号，便捷客户遴荐。

　　T4000系列型号确立表

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　　自2010年头始干涉研发以来，广立微一直勤勉于拓荒和提供技巧跨越、具有外洋竞争力的半导体参数测试系统，现已发展成为国内独一粗略向集成电路量产线供应WAT测试修复的企业。历程20多条客户产线上百台修复的永恒考证，广立微的WAT测试修复具有质料可靠、功能皆全、一致性强、测量精度高、测试成果快、交货周期短、就业保险好等特色。这次广立微推出T4000系列通用型高性能半导体参数测试系统，必将为公司的业务拓展注入新的动能。

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　　改日，广立微将延续打造更多具有外洋竞争力的技巧立异与互异化产物，为客户和阛阓提供性能优胜、分娩成果高和性价比高的测试修复处治决议，为客户创造更大价值。

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